Caracterización de estructura de superficies mediante AFM y STM

Este servicio tiene como objetivo contribuir a distintos proyectos de investigación, tanto locales como de otras universidades, y brindar servicios a empresas que así lo requieran. Para ello se cuenta con dos microscopios de barrido de punta AFM/STM, uno opera en aire y el otro en ultra-alto-vacío (UHV). 

El microscopio VT AFM 25DRH de Omicron Nano Technology opera en ultra alto vacío y permite tomar imágenes con resolución atómica a distintas temperaturas de la muestra, en un rango entre 20 y 1500 K. La cámara de UHV está equipada con técnicas de análisis de superficies estándares LEED y AES, y con facilidades de preparacón in-situ de muestras mediante un cañón de sputtering para limpieza de superficies, annealing de muestras y una cámara de introducción de muestras y puntas. Este microscopio se ofrece a través del Sistema Nacional de Microscopía. Para solicitar servicios contactarse con: Hugo Ascolani, J. Esteban Gayone o Esteban A. Sánchez.

El microscopio Autoprobe CP de la empresa Park Scientific Instruments opera en aire, y nos permite tomar imágenes con resolución nanométrica en un área de barrido máximo de 5 μm x 5μm y máxima excursión vertical de 1 μm.  El AFM opera en modo de contacto con puntas ultralever 0.6 μm. Para solicitar servicios contactarse con: Esteban A. Sánchez.